学术讲座 | 霍峰蔚教授:并行扫描光学显微技术(PSOM)

发布者:李晓婉发布时间:2021-03-31浏览次数:62


讲座题目:并行扫描光学显微技术(PSOM

主讲人:霍峰蔚 教授、南京工业大学

主持人:陈建刚 副研究员

开始时间:2021-4-1(周四)下午14

讲座地点:闵行校区信息楼133会议室


主讲人简介:

霍峰蔚,教授、博士生导师,南京工业大学先进材料研究院副院长,美国化学会ACSApplied Materials & Interfaces副主编。本科毕业于吉林大学化学系,博士就读于美国西北大学化学系。毕业后于2010年初加入新加坡南洋理工大学材料科学与工程学院(Tenuretrack助理教授),开始独立的科研工作。2014年回国,加入南京工业大学先进材料研究院。课题组研究集中在金属有机框架材料、催化及柔性电子等研究领域。近几年来,以第一作者或通讯作者身份先后在Science,Nature Nanotechnology,Nature Chemistry等国际知名期刊上发表研究论100多篇。获得国家重大科研仪器研制项目、面上项目等科研项目的支持。


讲座摘要:

过去的二十年里,在高分子组装及超分子体系的快速发展中扫描探针显微镜(SPM)起到了显著的助推作用。扫描探针显微镜是利用探针直接扫描样品表面,从而获取样品表面信息,并最终直接以三维图像的方式呈现出来。虽然扫描探针显微镜具有较高的纵向分辨率,不需要对样品进行任何特殊处理且具有能在常压条件、甚至液体环境下工作等优点,但这类显微镜的扫描效率比较低,扫描范围也比较小。我们致力于开发研制一种新型高效、大面积、高分辨率的显微镜系统,称之为并行扫描光学显微镜(Parallel ScanningOptical Microscopy, PSOM)PSOM的设计依据主要是在聚合物探针与样品表面相互作用的过程中,聚合物探针背面反射光强度会发生改变,而这种反射光强度的变化与样品表面的高度息息相关,因此通过视频记录分析聚合物阵列中数万根针尖反射光强度的变化,便可以将其转化为样品表面实时的高度信息,最终获得样品表面图案。与传统的AFM不同,首先,PSOM利用的是反射光强度变化信号,而不是显微探针受力大小;其次,在扫描过程中,POSM利用的是成千上万根探针同时工作,因此PSOM很可能提高传统AFM成像的效率,从而实现快速高效地大面积获取纳米结构表面性质。PSOM在利用PPL技术的基础上同时融合了传统光学显微镜快速大面积成像的特点以及传统AFM极高纵向分辨率的优点,使得快速获取样品表面大面积高分辨图像成为可能。